Agenda

Journée technique du CFM

Mardi 16 Mai 2017

Le Collège français de métrologie (CFM) organise le 16 mai 2017 une journée technique intitulée « Validation et suivi des performances d’une méthode de mesure ». L'objectif de cette journée est de clarifier ce qu’est la caractérisation et la validation de méthode, de présenter quelques techniques pour étudier certaines caractéristiques ainsi que des exemples de suivi de performance d’une méthode. Comme toujours, une large place sera réservée aux échanges avec les intervenants.

Lieu : Paris
Contact : www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

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LLD
Lower Limit of Detection, limite inférieure de détection