Agenda

Mesures Solutions Expo

Du Mercredi 31 Mai 2017
au Jeudi 01 Juin 2017

Associé au Collège français de métrologie (CFM), le Réseau Mesures, une association loi 1901 à but non lucratif regroupant des entreprises spécialisées dans l'instrumentation et la mesure, organise la première édition du salon Mesures Solutions Expo, les 31 mai et 1er juin 2017 à l’Espace Tête d’or de Lyon (Rhône). Le salon s’articulera autour d’une exposition, forte de 75 sociétés spécialisées dans les domaines de la mesure, du contrôle, de l’étalonnage, de l’instrumentation et de la métrologie, membres du Réseau Mesures ou non, et de deux cycles de conférences.

Lieu : Lyon
Contact : www.mesures-solutions-expo.fr

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.