Agenda

Energy Class Factory

Jeudi 14 Décembre 2017

L’énergie fait aujourd’hui partie des préoccupations des industriels. L’objectif des journées Energy Class Factory, organisées le 6 décembre à Rennes et le 14 décembre à Lyon, est justement de mettre en relation les entreprises proposant une expertise en efficacité énergétique (audit, service, solutions…) et les industriels qui souhaitent se lancer dans un processus d’amélioration de leurs performances énergétiques. Energy Class Factory se veut être le rendez-vous annuel des décideurs industriels en charge de trouver les moyens de réduire les consommations d'énergie, de mieux gérer la consommation de leurs utilités (électricité, eau, vapeur, air comprimé) et de mettre en place un processus de management de la performance énergétique. Cette journée propose des rendez-vous avec des experts des fournisseurs participants et un programme d'ateliers et de conférences présentant des solutions pratiques de gestion des flux énergétiques.

Lieu : Lyon
Contact : www.energie-industrie.com

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.