Le Collège français de métrologie (CFM) organise les 3 et 4 octobre prochains la 4^è édition des J’M (Journées nationales de la mesure) qui auront lieu à l'espace Tête d'Or à Lyon. Avec pour objectif d’aborder la mesure au plus près des besoins, ces deux journées mettront en avant les bonnes pratiques de la mesure en milieu industriel ainsi que les technologies et solutions adéquates. Chaque journée est décomposée en une conférence, trois tutoriels et plusieurs ateliers techniques. La conférence du premier jour portera sur la mesure dans l’usine connectée alors que les tutoriels traiteront des thèmes suivants : « Salle propre : maitrise des contaminants », « Grandeurs climatiques » et « Dimensionnel : cotation ISO et numérisation 3D ». Le second jour, la conférence aura pour thématique « Evolution normative : ISO/CEI 17025 et ISO 9001, quelle articulation ? », tandis que les tutoriels aborderont les sujets « Analyses : les instruments portatifs », « Gestion d'une mesure erronée » et « Pharmaceutique : surveillance des Z.A.C. ».

http://www.cfmetrologie.com/fr/evenements/journees-de-la-mesure