Agenda

CIM 2019

Du Mardi 24 Septembre 2019
au Jeudi 26 Septembre 2019

La 19e édition du Congrès international de métrologie, plus connu désormais sous son acronyme CIM et organisé par le Collège français de métrologie (CFM), se déroulera du 24 au 26 septembre 2019 à Paris Expo – Porte de Versailles. La biennale réunira une nouvelle fois le monde académique et les industriels, ainsi que les communautés française et internationale de la mesure. En plus d’un programme sera encore plus riche cette année, via l’ajout de conférences orales en parallèle des sessions posters, l’édition 2019 mettra en avant la métrologie du futur. Autre nouveauté, les visites techniques sont remplacées au profit de la zone de démonstration Start’Hub pour des start-up, au cœur du Village Métrologie du salon Measurement World qui se tiendra en même temps. Pour renforcer les passerelles entre le CIM et le Village Métrologie, se tiendront une table ronde intitulée « Formations et métiers dans l’industrie 4.0 » et un espace « Campus & Job Corner ». Rappelons que le CIM avait accueilli, en 2017, 850 congressistes représentant 45 pays différents (environ 35 % d’étrangers).

Lieu : Paris
Contact : www.cim2019.com

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Théorème de Shannon
Il concerne la numérisation d’un signal analogique. La numérisation consiste à échantillonner le signal à une fréquence donnée et à attribuer une valeur numérique à chacun des échantillons ainsi obtenus. Le théorème de Shannon dit que si on veut être sûr de ne perdre aucune informatique sur le signal, il faut que la fréquence d’échantillonnage soit au moins le double de la fréquence maximale contenue dans le signal. Ainsi, si un signal 10 Hz contient des harmoniques jusqu’au rang 20 (la fréquence maximale est alors de 20 x 10 = 200 Hz), il doit être échantillonné à une fréquence qui est au moins le double de 200 Hz, soit 400 Hz minimum.