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Micronora
25/09/2018 - 27/09/2018
Sepem Avignon
27/09/2018 - 27/09/2018
Journée technique de l'Exera
03/10/2018 - 04/10/2018
Journées nationales de la mesure (J’M)
11/10/2018 - 11/10/2018
Journée technique de l'IO-Link France
16/10/2018 - 16/10/2018
Digital Industry Summit
18/10/2018 - 18/10/2018
Les Assises du MES
23/10/2018 - 24/10/2018
Enova Paris

Capteurs et transmetteurs
Proline Promag P 100 et Proline Promass P 100

Le Promag P 100 est destiné aux applications chimiques et de process avec liquides corrosifs et températures [...]

Pour communiquer sur vos produits,
Jean-Guillaume CANUET
Directeur de Publicité
jgcanuet@newscoregie.fr - 01 75 60 28 54
  • Kit de développement pour caméras 3D Kit de développement pour caméras 3D
    IDS Imaging Development Systems diffuse la version 2.2 du kit de développement logiciel (SDK) pour ses caméras 3D Ensenso. Il offre un traitement d'image plus efficace, basé sur une carte graphique Nvidia CUDA (Compute Unified Device Architecture) avec processeur graphique (GPU).
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  • Logiciel d'ingénierie
 Logiciel d'ingénierie

    Siemens a ajouté des extensions fonctionnelles à son outil d'ingénierie TIA Portal V15.1. Celles-ci sont axées sur les tests et les simulations.

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  • Camera intelligente Camera intelligente
    La caméra intelligente Neon-1021 x86 d'ADlink Technologies intègre différents logiciels de vision, permettant de choisir le mieux adapté et de profiter d’un éventail de fonctions très étendu.
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Boundary Scan
La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).