Applications critiques embarquées : chercheurs et industriels s’associent autour du projet Hi-Lite

Le développement d'applications critiques dans le domaine de l'électronique embarquée devient tellement complexe que les méthodes de test traditionnelles ne permettent plus d’atteindre les niveaux de confiance imposés par les organismes de certification. Tel est le point de vue de Cyrille Comar, directeur général d’AdaCore, qui ajoute : « nous sommes arrivés à un “palier”. Les laboratoires ont mis au point des méthodes mathématiques plus poussées appelées “méthodes formelles”, mais ces dernières ont encore du mal à s’imposer. Il s’agit de technologies très puissantes, mais qui ont besoin d’être industrialisées.»
Le projet Hi-Lite a donc été créé dans le but de rendre ces méthodes formelles plus accessibles. Ce dernier, soutenu par le gouvernement français, le conseil général de l’Essonne et le pôle de compétitivité Systematic, a été créé à l’initiative d’AdaCore qui en est le coordinateur principal. Il regroupe des instituts de recherche (le CEA-List et l’INRIA-ProVal) et des industriels (Altran Praxis, Astrium Space Transportation et Thalès Communications).
L’objectif, au terme des trois ans prévus pour le projet, est d’aboutir à la définition d’un langage qui facilite l’emploi des méthodes formelles pour les langages C et Ada. Les applications seront testées plus rapidement, et avec un degré de confiance plus important. A l’avenir, les différents participants à Hi-Lite espèrent voir ce langage (et les logiciels associés) utilisés dans le cadre des procédures de certification.
(5 mai 2010)
Dernière modification le mercredi, 05 mai 2010 02:00
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Manufacturing Defect Analyser, analyseur de défauts de fabrication. Les testeurs MDA sont destinés au test des cartes électroniques et il s’agit en fait de testeurs in-situ (voir définition à ce terme) simplifiés. Seuls les courts-circuits, les circuits ouverts et les composants passifs sont vérifiés.