Station de bouclage

Rédigé par  jeudi, 13 mars 2014 19:33

Eaton lance une version automatisée de sa station de bouclage de réseau électrique Xiria. Par un meilleur diagnostic, elle contribue à réduire les défaillances du réseau et les déplacements sur le terrain des techniciens de maintenance.

# Destinée à des réseaux de moyenne tension (12 à 24 kV)

# Fonctions : contrôle, protection, enregistrement des alarmes et événements, acquisition des données

# Contact automatique du centre d’exploitation en cas d'anomalie, affichage des alertes ou avertissements sur système SCADA

# Options de communication à distance : IEC 60870-5-104, Modbus RTU

# Module RTU (unité terminale distante) intégré pour l'acquisition, le traitement, le stockage et la transmission des données

# Surveillance : jusqu’à 5 unités Xiria

# Version semi-automatique ou automatique

# Port Ethernet et modem sans fil, suivi configuration possibles par interface web

Eaton

www.eaton.eu

Dernière modification le dimanche, 16 mars 2014 18:56
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.