Système de conduite des procédés

Rédigé par  jeudi, 12 février 2015 16:05

Siemens sort la version 8.1 de son système de conduite des procédés Simatic PCS 7. Cette version comporte 70 innovations techniques, visant à améliorer la convivialité et l'efficacité.

# Chargement sélectif des codes de programme
# Mise à jour de certains blocs spécifiques sans arrêt du système d’automatisation
# Fonction Advanced Process Graphics améliorant le confort d’utilisation (couleurs discrètes, formes simples, symbolique univoque)
# Données d’installation présentées sous la forme de vues hybrides, de courbes de tendance et de diagrammes en radar
# Module SEC adaptant les performances du contrôleur UC 410 Simatic PCS 7 aux tâches d’automatisation
# Accroissement du nombre d’objets de procédés et ajustement de la capacité de traitement
# Bloc MPC : régulation de 10 valeurs contrôlées et de 10 grandeurs manipulées maximum
# Blocs de surveillance d’état : surveillance du bon fonctionnement des actifs mécaniques


Siemens France
www.siemens.com

Dernière modification le jeudi, 12 février 2015 15:05
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.