Système d'information industriel

Rédigé par  vendredi, 05 juin 2015 10:22

Codra sort la version 6 de son logiciel Panorama E², un système d'information intégrant des fonctions de supervision et d'interface homme-machine. Cette version propose une centaine d'améliorations et de nouvelles fonctionnalités.

# Nouvelles formes de présentation de données, avec informations de sources différentes
# Intégration de cartes interactives (Google Map, Google Earth, Open Street Map)
# Suivi analogique des données de procédés et prédiction des évolutions (tendance à la hausse ou à la baisse, heure estimée d'atteinte d'un seuil critique…)
# Bibliothèque d’objets enrichie
# Génération de base d'information pour la gestion du réseau (MIB) SNMP, à partir des valeurs publiées par l’application
# Génération de certificats OPC UA
# Amélioration des outils de recherche d'erreur, de développement et de mise au point des applications
# Gestion intrinsèque de l’Unicode (y compris les identifiants et les mots de passe utilisateurs)

Codra
http://fr.codra.net

Dernière modification le vendredi, 05 juin 2015 10:22
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FAULHABER Spécialiste Systèmes d

Inventé par Dr. Fritz Faulhaber père et breveté en 1958, la bobine á bobinage oblique de FAULHABER [...]

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.