Flir rachète un spécialiste des lasers

Flir, le leader mondial des systèmes d’imagerie thermique, vient de dépenser 13 M$ pour prendre le contrôle de la société américaine Scientific Materials Corp (SMC), qui fabrique des composants pour les lasers haut de gamme utilisés dans les applications industrielle, militaire, médicale et scientifique. Il ne s’agit pas pour Flir de se diversifier vers un nouveau marché mais de maîtriser une technologie qui pourrait jouer un rôle important dans les applications d’imagerie.
(Novembre 2005)
Dernière modification le mardi, 29 novembre 2005 01:00
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ICT

In Circuit Test, test in-situ. Destiné au test des cartes électroniques, le test in-situ consiste à tester individuellement, les uns après les autres, les différents composants que comporte la carte. L’accès aux composants se fait via un lit à clous ou, si celle-ci comporte des composants boundary scan (BS), via le connecteur de la carte. Le test in situ permet de tester les circuits ouverts, les courts-circuits, de vérifier que les bons composants sont aux bonnes places, de contrôler les valeurs des composants passifs (résistances, condensateurs, selfs, etc.) et de vérifier le bon fonctionnement des circuits intégrés numériques. Si un composant est défectueux, il est immédiatement localisé. Le test in-situ permet de s’assurer que tous les composants présents sur la carte fonctionnent correctement mais il ne garantit pas que la carte fonctionne correctement. Cela, seul le test fonctionnel peut l’assurer.

Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.