Compteurs divisionnaires sans-fil

Lem étend sa famille Wi-LEM ( Wireless Local Energy Meter) de compteurs d’énergie sans fil pour la mesure à distance de la consommation d’électricité ou  d’eau ainsi que la surveillance de la température et l’humidité. Avec ces compteurs, les entreprises industrielles et tertiaires peuvent analyser leur consommation et ainsi identifier les points d’amélioration.
• Puissance radio a été augmentée, passant de 1 mW à 10 mW, rendant possible une plus grande distance de communication entre les nœuds du réseau par rapport à la génération précédente
•  Communication sans fil selon le standard IEEE802.15.4
• Compteur d’énergie EMN pour la mesure de courants allant jusqu’à 2000 Aeff avec des capteurs de courant ouvrant
• Mesure l’énergie active, réactive et apparente ainsi que le courant maximum et la tension minimale
• Compteur Wi-Pulse d’impulsions doubles entrées, utilisé pour compter et transmettre les impulsions générées par les compteurs d’eau ou d’électricité d’énergie ou autres
• Capteur Wi-Zone de température et d’humidité pouvant se connecter à un réseau Wi-LEM
• Modules Wi-Pulse Wi-Zone alimentés par batterie dotés d’une antenne intégrée
• L’ensemble de ces modules fonctionne avec le répéteur Mesh Node et la passerelle Mesh Gate de Lem
• Le Mesh Node assure la liaison entre plusieurs nœuds du réseau
• Le Mesh Gate est une passerelle autonome de gestion de réseau sans fil et se connectant à un PC pour transmettre les données des capteurs
• Chaque Mesh Gate peut gérer jusqu’à 200 EMN.
Dernière modification le jeudi, 15 juillet 2010 13:05
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Boundary Scan
La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).