L'IIC sort un guide de référence pour l'IIoT

Rédigé par  jeudi, 22 décembre 2016 15:41

Le consortium de l’Internet industriel publie le Business Strategy and Innovation Framework, un document qui décrit tout ce qu’une entreprise doit savoir pour tirer le meilleur profit de l’Internet des objets.

Fondé en 2014, l’Industrial Internet Consortium (IIC) compte à présent plus de 200 membres, mobilisés pour le développement coordonné et sécurisé de l’Internet des objets industriel (IIoT) en pleine expansion. Il vient à ce titre de publier le Business Strategy and Innovation Framework, un guide disponible en ligne et détaillant tous les points qu’une entreprise doit prendre en compte pour optimiser son retour sur investissement dans l’IIoT. En effet, comme l’explique Jim Morrish, fondateur de Machina Research et président du groupe Business Strategy au sein de l’IIC, « Tout le monde sait que l’Internet des objets industriel va complètement transformer nos activités. Ce qui est moins clair, c’est la façon de déployer ces nouveaux concepts pour en tirer le meilleur profit ».

Avec ce document, l’IIC propose une véritable boîte à outils pour identifier et analyser les opportunités d’initier des solutions dans l’Internet industriel. Il constitue un ensemble très complet de bonnes pratiques à suivre, permettant aussi bien une approche allégée pour les petites structures qui font leurs premiers pas dans l’IIoT, que la mise en œuvre d’évolutions dans de grandes entreprises déjà équipées.

Si ce guide a été conçu pour servir de référence aux directeurs généraux qui souhaitent engager leur société dans l’IIoT, il traite également de la création de valeur que cela induit au niveau des utilisateurs, des clients et des partenaires. Une approche globale qui, selon l’IIC, peut contribuer à réduire les incertitudes du marché et des technologies.

Dernière modification le jeudi, 22 décembre 2016 15:41
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.