Passerelle pour objets connectés

Rédigé par  mardi, 28 novembre 2017 10:57

Conçue pour simplifier la connexion entre les appareils industriels et le cloud, la passerelle ICO120-83D d'Axiomtek permet de collecter et de transférer des données issues de nombreux objets connectés (IoT).

# Processeur : Intel Celeron N3350
# Mémoire système : DDR3L-1866 SO-DIMM, jusqu'à 8 Go
# Interfaces : 1 port COM/CANbus, 2 USB, 2 Gigabit Ethernet LAN
# Extensions : 1 emplacement PCI Express Mini Card, 1 mSATA, 1 SIM
# Tension d'alimentation : 12 à 24 Vcc
# Dimensions : 31 x 100 x 125 mm
# Boîtier en aluminium IP40, supportant une température de -20 à +70 °C et des vibrations jusqu'à 2 g

Axiomtek
www.axiomtek.com

Dernière modification le mardi, 28 novembre 2017 10:57
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Jean-Guillaume CANUET
Directeur de Publicité
jgcanuet@newscoregie.fr - 01 75 60 28 54
In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.