Détection de gaz : création du laboratoire Cubix

Rédigé par  mercredi, 11 janvier 2017 11:39

Le français Bertin Technologies et l’Onera ont annoncé d’un laboratoire de recherche commun pour la télédétection de gaz.

Bertin Technologies, filiale du groupe français CNIM spécialisée dans les études, le conseil et la conception d’équipements en Défense et sécurité, en énergie et environnement ainsi qu’en sciences du vivant, et l’Office national d'études et de recherches aérospatiales (Onera) ont annoncé la création de Cubix, un laboratoire de recherche commun pour la télédétection de gaz, via un contrat de Partenariat de recherche et industrie (PRI).

L’équipe travaillant au sein de ce laboratoire aura pour mission la mise au point d’une nouvelle génération de capteurs d’images infrarouges multispectraux, dans un délai de trois ans. En plus d’être robustes aux fausses alarmes, plus compactes et plus rapides que ceux existant, ces capteurs devront être embarqués sur un véhicule et, à plus long terme, sur un aéronef (drone, hélicoptère, etc.), pour assurer une détection fiable, même à très faible concentration, et ainsi évaluer les risques à distance.

« Au-delà de l’intérêt applicatif direct pour les secteurs du pétrole et du gaz, les solutions développées au sein de Cubix pourront également ouvrir de nouvelles perspectives pour la conception de systèmes innovants dans le domaine de la Défense », précise Bruno Sainjon, PDG de l’Onera.

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.