Spectromètre EDXRF pour métaux précieux

Rédigé par  mardi, 26 septembre 2017 15:55

Ametek a étendu sa gamme de spectromètres à fluorescence X dispersive en énergie (Energy dispersive X-ray fluorescence ou EDXRF), avec l’analyseur Spectro Midex MID05, basé sur la 5e génération d’analyseurs EDXRF, pour le test des métaux précieux.

# Tube à rayons X d’une puissance de 40 W, avec anode en Molybdène

# Chambre d’échantillon dotée d’une vidéo

# Détecteur SDD (Silicon Drift Detector)

# Amélioration significative de la précision de mesure, même en présence de faibles teneurs ou de traces, ou accélération de la vitesse de test (jusqu’à 15 s)

# Appareil compact (540 x 555 x 470 mm pour environ 50 kg)

Ametek France

www.spectro.com

Dernière modification le mardi, 26 septembre 2017 15:55
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.