Un nouveau CTO chez Brooks Instrument

Rédigé par  mardi, 07 mars 2017 09:39
Mohamed Saleem, nouveau CTO de Brooks Instrument. Mohamed Saleem, nouveau CTO de Brooks Instrument.

Mohamed Saleem vient d’être nommé au poste de CTO du spécialiste de la débitmétrie et du contrôle des fluides.

L’américain Brooks Instrument, fabricant spécialisé dans la débitmétrie et le contrôle des fluides, vient de nommer Mohamed Saleem au poste de Chief Technology Officer (CTO), qui aura ainsi la responsabilité du centre de développement technologique californien de la société.

Titulaire d’un baccalauréat en génie chimique du National Institute of Technology en Inde, d’une maîtrise en génie chimique de l'Université Tufts et d’un doctorat en sciences des matériaux et en génie de l'Université de Floride, Mohamed Saleem a travaillé plus de 20 ans dans l’industrie des semi-conducteurs. Il été auparavant vice-président de l’ingénierie et du développement commercial de Fujikin of America.

Dernière modification le jeudi, 09 mars 2017 16:19
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.