National Instruments étend son offre d’oscilloscopes PXIe

Rédigé par  jeudi, 08 décembre 2016 10:20

Ce nouveau modèle permet de réaliser des mesures sur des tensions jusqu’à 100 V pic à pic.

L’américain National Instruments, spécialiste des systèmes de test basés sur plateformes, vient d’étoffer son offre d’oscilloscopes numériques modulaires, avec le modèle au format PXI Express (PXIe) PXIe-5164. Ce nouvel oscilloscope se caractérise notamment par une gamme de tension de 100 V pic à pic (offsets programmables pour des mesures jusqu'à ±250 V et 2 voies CAT II), à une fréquence d’échantillonnage de 1 Géch/s et une résolution de 14 bits.

« Les oscilloscopes au format PXI permettent de diminuer les temps de test, d'augmenter la densité de voies et garantissent à présent une plus grande souplesse de mesure en associant une large bande passante, une haute résolution et une gamme de tensions élevée. Les capacités de mesure du PXIe-5164 permettent de visualiser de petits détails généralement masqués par le bruit de l'instrument », affirme Steve Warntjes, vice-président de la R&D de National Instruments.

Parmi les autres caractéristiques, citons une bande passante de 400 MHz, un flux de données de 3,5 Go/s supporté via 8 voies de communication de bus PCI Express Gen 2, un FPGA Xilinx Kintex-7 410T permettant de développer des IP personnalisées en LabVIEW (filtrage, déclenchement), 9 entrées/sorties numériques.

Connectez-vous pour commenter

logo_80ans


Capteurs et transmetteurs
Pression absolue et relative Cerabar M PMP51

Le transmetteur de pression numérique Cerabar PMP51 avec cellule de mesure piézorésistive et membrane [...]

Pour communiquer sur vos produits,
Jean-Guillaume CANUET
Directeur de Publicité
jgcanuet@newscoregie.fr - 01 75 60 28 54
PSD
Ce sigle a deux sens :
- Particle Size Disribution, distribution des particules par taille. On rencontre ce terme en granulométrie.
- Position Sensitive Detector, détecteur sensible à la position. Il s’agit de capteurs se présentant sous la forme d’une puce que l’on trouve notamment intégrée dans les cellules de mesure de triangulation laser