Cartes d’acquisition de données rapides

Rédigé par  lundi, 06 mars 2017 13:57

HBM étend l’offre de cartes pour son système Genesis High Speed, avec les cartes d’acquisition de données GN840B et GN1640B. Elles sont destinées aux mesures dynamiques dans les essais des matériaux et les tests structuraux.

# Possibilité de raccorder 9 types différents de capteurs : jauges de contrainte (pont complet, demi ou quart de pont), capteurs IEPE, capteurs piézoélectriques, thermocouples, sondes de résistance de platine, sondes 4-20 mA ou tensions électriques

# 8 voies (GN840B) ou 16 voies (GN1640B)

# Fréquence d’échantillonnage de 500 kéch/s par voie (24 bits)

# Bande passante : 210 kHz

# Profondeur mémoire embarquée : 2 Go

# Option « Maths temps réel » : base de données de calculs mathématiques (calculs basés sur des cycles, transformation de signal…)

HBM France

www.hbm.com

Dernière modification le lundi, 06 mars 2017 13:57
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.