Analyseur de spectre en temps réel

Rédigé par  mercredi, 08 mars 2017 09:47

Le R5500 annoncé par ThinkRF est un analyseur de spectre en temps réel, qui se distingue par des taux de balayage RF plus rapides, un débit de données accru et des performances du front-end RF améliorées.

# Gamme de fréquence : 9 kHz à 8, 18 ou 27 GHz

# Largeur d’analyse en temps réel : 10, 40 ou 100 MHz

# DANL typique : -150 dBm (modèle 8 GHz) ou -161 dBm (autres modèles)

# Bruit de phase : -100 dBc/Hz à 10 kHz d’une porteuse de 1 GHz

# Balayage en fréquence de 28 GHz/s et un débit en streaming de 360 Mbit/s

# Boîtier sans écran de dimensions de 269 x 173 x 55 mm et de masse de 2,7 kg

ThinkRF

www.thinkrf.com

Dernière modification le mercredi, 08 mars 2017 09:47
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Capteurs et transmetteurs
Pression absolue et relative Cerabar M PMP51

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.