Analyseur de spectre optique large bande

Rédigé par  mardi, 21 mars 2017 16:25

Le modèle AQ6374 complète la série d’analyseurs de spectre optique (OSA) AQ6370 de Yokogawa Electric. Succédant à l’AQ6315A, il se distingue notamment par une gamme de longueurs d’onde allant de 350 à 1 750 nm, la présence d’un système de purge d’air réduisant l’influence de l’absorption de vapeur d’eau sur les mesures spectrales, ainsi qu’une interface utilisateur améliorée.

# Résolution : 0,05 à 10 nm

# Précision : ±0,05 nm (633 et 1 523 nm) ou ±0,2 nm (350 à 1 700 nm)

# Niveau de sensibilité : -80 dBm (900 à 1 600 nm)

# Étendue de mesure : -80 à +20 dBm

# Dynamique (pic à ±1 nm et résolution de 0,05 nm) : 60 dB

# Temps de balayage inférieur à 0,5 s

# Temps de mesure 40 fois plus rapides et échantillonnage 100 fois plus grand (100 001 points de données) que son prédécesseur

# Source de calibration intégrée assurant un alignement optique et un étalonnage en longueur d’onde en quelques minutes

Rep. : Wavetel

www.wavetel.fr

Dernière modification le mardi, 21 mars 2017 16:25
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.