Générateur arbitraire et numériseur PXIe

Rédigé par  jeudi, 13 avril 2017 13:38

Astronics Test Systems a étendu son offre d’instruments au format PXI Express (PXIe), avec le générateur de formes d’onde arbitraires PXIe-1802 et le numériseur PXIe-1803. Ces deux modules PXIe 3U simple largeur affichent des capacités de test et une justesse de mesure inégalées dans ce facteur de forme pour l’aérospatial, la défense, les communications et autres applications à haute fiabilité.

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Dernière modification le jeudi, 13 avril 2017 13:38
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.