Tektronix renouvelle sa série de générateurs arbitraires

Rédigé par  mardi, 18 avril 2017 15:43

Le remplaçant du générateur de formes d’onde arbitraires AWG5000 se distingue notamment par la fidélité élevée du signal, son évolutivité et son coût « réduit ».

L’américain Tektronix, le leader mondial en oscilloscopie et l’un des principaux fabricants en instrumentation électronique, vient de dévoiler le générateur de formes d’onde arbitraires AWG5200, le successeur de l’AWG5000 pour répondre aux exigences de la recherche avancée, des essais électroniques et des systèmes radars et de guerre électronique, etc.

« La génération de signal est depuis un certain temps un problème majeur pour les concepteurs et les chercheurs en RF, et qui ne fait qu'empirer de par la complexité croissante de leurs besoins. Mais les générateurs arbitraires hautes performances qui pourraient répondre à leurs besoins sont coûteux et peu flexibles », constate Jim McGillivary, directeur général des Solutions RF et Composants de Tektronix.

Pour garantir fidélité du signal, évolutivité et coût réduit, le générateur arbitraire AWG5200 affiche 2, 4 ou 8 voies, selon la version, une fréquence d’échantillonnage de 5 Géch/s (le double par interpolation), une résolution verticale de 16 bits, une bande passante de 2 GHz, qui peut être portée à 8 GHz, une profondeur mémoire de 2 Géch par voie, un SFDR typique de -70 dBc dans la bande (de DC à 1,25 GHz), une amplitude de -85 à +10 dBm (de 10 MHz à 2 GHz, sortie AC amplifiée) en option, la présence de 32 marqueurs accessibles en face arrière, un écran LCD  tactile 6,5 pouces XGA.

Connectez-vous pour commenter

logo_80ans

Pas d'événement

Mesure physique, analyse chimique
Experts en analyses physico-chimiques

Avec plus de 35 ans d'expérience en analyse physico-chimique et une présence dans le monde entier, [...]

Pour communiquer sur vos produits,
Jean-Guillaume CANUET
Directeur de Publicité
jgcanuet@newscoregie.fr - 01 75 60 28 54
In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.