Tektronix se lance dans l’analyse de réseaux vectorielle

Rédigé par  mardi, 25 avril 2017 12:25

Le leader mondial en oscilloscopie étend son offre d’instruments de mesure RF USB avec ses premiers analyseurs de réseaux vectoriels.

Avec la nouvelle série TTR500, l’américain Tektronix, le leader mondial en oscilloscopie et l’un des principaux fabricants en instrumentation électronique, se lance sur le marché de l’analyse de réseaux vectorielle. Le fabricant étend en effet son offre d’instruments de mesure RF au format USB avec ses premiers analyseurs de réseaux vectoriels.

« Avec son architecture innovante et son design désagrégé, la série TTR500 atteint le même niveau de performances que celui d'un modèle de paillasse, mais moyennant un coût 40 % moindre et une taille et un poids à l’unité sept fois moins importants. La nouvelle architecture permet également de réduire considérablement le nombre de composants présents dans l'instrument, ce qui réduit la complexité et permet une fiabilité accrue par rapport aux appareils de paillasse traditionnels », explique Jim McGillivary, directeur général des solutions RF et composants de Tektronix.

Les deux modèles d’ores et déjà disponibles de la série TTR500, selon la gamme de fréquence (100 kHz à 3 ou 6 GHz), sont des analyseurs de réseaux vectoriels 2 ports pour la mesure de composants passifs/actifs, d’antennes, de modules RF, des câbles de test, d’adaptateurs, etc. Les marchés visés sont avant tout la conception dans le domaine des objets connectés (IoT) et l'Éducation nationale.

Parmi les autres caractéristiques, citons une dynamique typique de 124 dB (de 2 à 200 MHz) ou 122 dB (de 4,5 à 6 GHz), un bruit de trace typique inférieur à 0,008 dB rms (jusqu'à 200 MHz) et une puissance de sortie comprise entre -50 et +7 dBm, des dimensions (HxLxP) de 44,5 x 206,4 x 285,8 mm et une masse de 1,59 kg. Le fabricant propose enfin le nouveau logiciel d'analyse VectorVu-PC et le seul té de polarisation intégré pour tester les dispositifs actifs dans cette catégorie.

Dernière modification le mardi, 25 avril 2017 12:34
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.