Noise XT dévoile un générateur de bruit de phase

Rédigé par  mardi, 13 juin 2017 11:27

Il s’agit du premier générateur de bruit de phase du marché, développé par le français.

A l’occasion de l’édition 2017 de la manifestation International Microwave Symposium (IMS), qui s’est déroulée du 4 au 9 juin dernier, Noise eXtented Technologies (XT), fabricant spécialisé dans la synthèse de fréquence à très faible bruit de phase et de l'analyse de bruit de phase, et qui a été racheté par le français Spherea Test & Services, a dévoilé le premier générateur de bruit de phase du marché, le modèle PNG-A.

« Il n'existe aucune norme de test pour l'étalonnage du bruit de phase dans les industries RF, micro-ondes et numériques. Il s'agit donc d'un nouveau type d'instrument dans ce domaine. Les utilisateurs types du PNG-A sont des ingénieurs dans des laboratoires d'étalonnage ou des environnements de test de production qui doivent accélérer les opérations de test et d'étalonnage du bruit de phase », affirme Guillaume De Giovanni, président de Noise XT.

Les circuits devenant plus complexes, la détection précise et la représentation du bruit de phase sont essentielles pour un développement rapide de 5G. En plus d’un bloc IP unique implémenté dans un FPGA complexe, les autres caractéristiques sont un profil de bruit de phase de -120 à 0 dBc/Hz, un profil de bruit d’amplitude de -120 à -80 dBc/Hz, la possibilité de mélanger des bruits Brownien et blanc, la programmation de parasites dans l’offset (1 Hz à 1 MHz) et le niveau (-80 à -20 dBc).

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.