Yokogawa étend son offre d’oscilloscopes/enregistreurs

Rédigé par  mardi, 13 juin 2017 11:29

Plus compact et aux performances accrues, le nouveau modèle DL350 vient compléter les DL850E de la série ScopeCorder du japonais.

Le japonais Yokogawa Electric, fabricant d’instruments de test et mesure notamment, dévoile le ScopeCorder DL350, le dernier-né de sa série d’oscilloscopes/enregistreurs. De par ses performances et ses fonctionnalités, le nouvel appareil complète les modèles haut de gamme DL850E et DL850EV introduits il y a cinq ans.

Le DL350 se différencie de son aîné par sa précision via une fréquence d’échantillonnage de 100 Méch/s et une résolution maximale de 16 bits, par la présence d’entrées isolées jusqu’à 1 kV et par une profondeur mémoire de 100 Mpoints par module (mémoire interne) ou 5 Go par module (via une carte SD), en plus d’un facteur de forme plus compact (dimensions de 305 × 217 × 92 mm) et d’un écran TFT tactile résistif 8,4 pouces 800 x 600 pixels.

« Les ingénieurs de test en laboratoire ou les techniciens de maintenance n’ont qu’à le prendre et s’en servir, une fois les modules définis, aucune programmation n’étant nécessaire », affirme Clive Davis, directeur du marketing de Yokogawa Electric Europe.

Le DL350 est en effet un appareil portable très flexible en termes de nombre de voies (jusqu’à 8 entrées analogiques et 16 voies numériques en même temps) – le DL350 dispose de 2 emplacements, au lieu de 8 avec les DL850E – , de grandeurs mesurées (température, vibrations, accélération, contrainte et fréquence), de bus série supportés (CAN, LIN et SENT), d’alimentation électrique, etc.

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.