+3,7 % pour le marché mondial du test et de la mesure

Rédigé par  jeudi, 07 décembre 2017 14:32
+3,7 % pour le marché mondial du test et de la mesure Fluke

Technavio a identifié cinq acteurs clés du marché : Anritsu, Bureau Veritas, Fortive, Keysight technologies et National Instruments.

Selon la société d’analyses britannique Technavio, le marché mondial du test et de la mesure passerait d’un montant de 19,17 milliards de dollars en 2016 à 23 milliards de dollars cinq ans plus tard, soit un taux de croissance annuel moyen (CAGR) de 3,7 %. « Le marché mondial du test et de la mesure est en constante évolution », affirme Gaurav Mohindru, analyste en chef Test et mesure chez Technavio.

En termes de segments, celui des équipements de test sans-fil affiche la plus grand part de marché, avec 34,48 % en 2016, et le secteur de l’aéronautique et de la défense a représenté un montant de 5,09 milliards de dollars, toujours en 2016.

Le test et la mesure est par ailleurs un marché fragmenté de par la présence de nombreux fabricants internationaux, régionaux et locaux. Plusieurs acteurs locaux et régionaux ont commencé à proposer des produits spécifiques à des applications pour différents utilisateurs finaux. L'environnement concurrentiel devrait s'intensifier à mesure que les innovations technologiques, et les fusions et acquisitions augmenteront, ce qui permet aux fabricants de maintenir leur part de marché.

Les cinq acteurs clés identifiés par Technavio sont le japonais Anritsu, le français Bureau Veritas, le conglomérat Fortive, qui détient notamment Fluke et Tektronix, les américains Keysight Technologies et National Instruments.

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.