Les analyseurs supportent le Bluetooth Mesh Networking

Rédigé par  vendredi, 09 mars 2018 13:41

Le spécialiste ellisys a en effet ajouté le support de cette nouvelle spécification à tous ses analyseurs de protocole.

Le suisse ellisys, fabricant de solutions de test de protocoles Bluetooth, USB et Wi-Fi, vient d’annoncer le support de la nouvelle spécification Bluetooth Mesh Networking pour tous ses analyseurs de protocole Bluetooth Explorer et Bluetooth Tracker.

Ces mises à jour majeures et gratuites incluent des caractérisations analytiques et de performances dédiées aux profils, aux propriétés, aux mécanismes de sécurité et à la confidentialité de réseaux maillés, ainsi qu’au fonctionnement du système. Le maillage réseau est une adaptation qui ouvre un large éventail de nouvelles applications pour la technologie Bluetooth Low Energy (LE), principalement associées aux objets connectés (IoT).

« La prise en charge de fonctionnalités supplémentaires pour l'analyse de réseaux maillés permettra d'accélérer une variété de tâches de développement que nos clients entreprendront dans le cadre de projets intégrant cette technologie. Le maillage réseau est clairement l'un des progrès les plus importants dans la technologie Bluetooth depuis sa création », affirme Mario Pasquali, président et CEO d'ellisys.

« L'interopérabilité mondiale des produits est la pierre angulaire de la technologie Bluetooth. Ces outils de test renforcent le processus de qualification Bluetooth – qualification essentielle pour assurer l'interopérabilité des près de 4 milliards de nouveaux appareils Bluetooth prévus en 2018 – et, par conséquent, aident les autres membres à proposer des produits Bluetooth plus innovants, plus sûrs et plus interopérables sur le marché », constate Marriot Winquist, vice-président du Member Development and Services du Bluetooth SIG.

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La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).