Tektronix vise les tests en 400G

Rédigé par  jeudi, 29 mars 2018 07:33

Le fabricant américain vient d’ajouter des modules supplémentaires à ses oscilloscopes DSA8300 et DPO70000SX, pour accélérer le développement et la production des composants 400G.

A l’occasion de l’édition américaine de la manifestation OFC, qui s’est déroulé du 11 au 15 mars derniers à San Diego, l’américain Tektronix, le leader mondial en oscilloscopie et l’un des principaux fabricants en instrumentation électronique, vient d’ajouter trois modules optiques supplémentaires, deux à son oscilloscope à échantillonnage DSA8300 et un à son oscilloscope en temps réel DPO70000SX.

Les modèles 80C20 et 80C21, pour les formats PAM4 et NRZ de 56 GBaud, se caractérisent par la sensibilité (-10 dBm typique pour la sensibilité de test de masque) et le niveau de bruit (9 µW RMS typique, OC-768/STM-256 et à 1 310 nm) les plus faibles du marché, affirme la société. Ces performances permettent ainsi aux utilisateurs d’augmenter leur capacité de production et d’améliorer les rendements de leurs modules et systèmes 400G.

Parmi les autres spécifications, citons une bande passante optique non filtrée jusqu’à 53 GHz, des longueurs d’onde calibrées de 1 310 et 1 550 nm, une perte de retour optique supérieure à 27 dB (single mode). Avec ses 2 voies, le modèle 80C21 permet même de doubler le débit et la capacité.

Tektronix vient également d’annoncer une prise en charge améliorée des toutes dernières mesures TDECQ (Transmitter and Dispersion Eye Closure Quaternary) en 400G PAM4, avec un logiciel optimisé pour le traitement parallèle à quatre canaux, pour le test à haute capacité en production.

« Alors que les conceptions 400G entrent en production, nos clients recherchent des moyens d'améliorer le rendement de fabrication et le coût des tests. Or, la confiance dans les résultats des tests et la capacité à séparer rapidement et efficacement les bons composants des mauvais, est essentielle », explique Sarah Boen, directrice générale chargée des Oscilloscopes de performance chez Tektronix.

La troisième sonde optique monomode de 56 GBaud DPO7OE2 vient compléter le modèle DPO7OE1 (33 GHz). Cette nouvelle sonde affiche une bande passante électrique de 59 GHz maximum, un temps de montée (10-90 %) de 8 ps, des longueurs d’onde calibrées de 1 310 et 1 550 nm, un bruit optique RMS typique de 11 µW (interface TekConnect) ou 16 µW (technologie ATI). De par ses performances et ses capacités de débogage avancées, la sonde DPO7OE2 a été conçue pour réduire les délais de mise sur le marché des composants 400G PAM, au niveau de leur production.

Dernière modification le jeudi, 29 mars 2018 07:33
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La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).