Farnell element14 étoffe son offre en test et mesure

Rédigé par  jeudi, 23 août 2018 17:02
Farnell element14 étoffe son offre en test et mesure Tektronix

Le distributeur britannique a intégré dans son catalogue des instruments de mesure de Rohde & Schwarz et de Tektronix.

Farnell element14, entité du groupe britannique Premier Farnell (Avnet) spécialisée dans la distribution de produits technologiques, vient d’élargir son offre de produits dans le domaine du test et de la mesure. Après le multimètre numérique 6,5 digits Keithley DMM6500 de l’américain Tektronix et la série de générateurs de fonctions TGF3000 du britannique AIM-TTi, la société vient en effet d’ajouter quatre autres produits.

On trouve ainsi le système d’acquisition de données/multimètre numérique 6,5 digits Keithley DAQ6510 (voir photographie) de Tektronix, les stations de soudage 70 W numérique WE 1010 de l’allemand Weller, les analyseurs de spectre FPC et la série d’alimentations électriques HMP de l’allemand Rohde & Schwarz.

« L'investissement dans le stock que nous avons réalisé au cours de la dernière année a considérablement renforcé l'ampleur et la profondeur de notre gamme de produits. Notre gamme en test et mesure compte désormais aussi bien des produits à forte valeur ajoutée pour les ingénieurs et les formateurs soucieux des coûts que des équipements professionnels haut de gamme », précise James McGregor, Head of Test and Tools de Premier Farnell et Farnell element14.

Dernière modification le vendredi, 24 août 2018 14:37
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La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).