Chauvin Arnoux étend sa gamme de contrôleurs d’appareillages

Rédigé par  jeudi, 13 septembre 2018 12:24

Le nouveau contrôleur se distingue notamment par un écran TFT couleur et une interface Ethernet, facilitant son utilisation.

Le groupe français Chauvin Arnoux, fabricant d’instruments pour le test et mesure et les mesures physiques, vient d’annoncer la disponibilité du contrôleur d’appareillages multifonction transportable CA 6165, en complément du modèle CA 6155.

Le nouveau contrôleur permet de contrôler et de certifier la sécurité électrique de tous les appareillages et équipements, selon les normes IEC 60204, IEC 61439, IEC 60335, IEC 60950, IEC 50191, VDE 0701/0702, etc., en fin de chaîne de production, lors de vérifications périodiques ou de maintenance.

Le CA 6165 permet ainsi de réaliser les tests de continuité, avec un courant de test de 0,2 à 25 A, et d'isolement de 0-19,99 MΩ à 20-199,9 MΩ, ainsi que les mesures de la chute de tension, du temps de décharge interne et externe, des courants de fuite (en fonctionnement, différentiel, de substitution ou de contact). Fonctionnel sous tous les régimes (TN, TT et IT), il est possible de réaliser les tests unitaires et les séquences automatiques, y compris diélectriques, jusqu’à 5,99 kV AC ou 6,99 kV DC.

Le contrôleur CA 6165 est doté d'un écran TFT couleur tactile capacitif 480 x 272 pixels – le CA 6155 dispose d’un écran graphique matriciel 240 x 128 points avec rétroéclairage et d’un clavier alphanumérique – , d’une carte micro‐SD, d'entrées pour contact de porte et pédale de télécommande, de sorties pour lampes de signalisation, de ports USB, Bluetooth et Ethernet. Sans oublier le logiciel PC MT Link pour la gestion de structures, de bases de données, de séquences automatiques et la génération de rapports.

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La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).