Capteurs inductifs IO-Link

Rédigé par  mardi, 14 février 2017 10:01

Les capteurs inductifs longue portée C44 de Contrinex sont désormais capables d'échanger des données avec des automates via l'interface IO-Link.

# Portée: jusqu'à 40 mm
# Tête rotative à 5 directions
# 4 Led d'état

# Sorties antivalentes

# Connecteur M12 standard

# Plage de température : -25 à +85 °C

# Indice de protection : IP68/69K

Contrinex

www.contrinex.com

Dernière modification le mardi, 14 février 2017 10:01
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.