Système de reconnaissance des défauts

Rédigé par  lundi, 06 mars 2017 13:59

Micro-Epsilon a mis au point le reflectControl Automation pour reconnaître les plus petits défauts de manière fiable sur les surfaces réfléchissantes (composants brillants et laqués, pièces intérieures d'un véhicule…).

# Projection de franges de lumière sur l'objet de mesure

# Enregistrement par une caméra et évaluation par un logiciel des déviations dans les franges causées les défauts de surface

# Inspection 3D de pièces aux géométries complexes (surfaces jusqu'à 210 x 86 mm)

# Résolution latérale : 65 à 75 µm

# Vitesse inférieure à 2 s par position de mesure

# Capteur guidé sur l'objet à mesurer via un robot composé d’un écran pour la projection des franges et de deux caméras

# Programme du robot créé à partir du modèle 3D de l’objet à mesurer

Micro-Epsilon France

www.micro-epsilon.fr

Dernière modification le lundi, 06 mars 2017 13:59
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Théorème de Shannon
Il concerne la numérisation d’un signal analogique. La numérisation consiste à échantillonner le signal à une fréquence donnée et à attribuer une valeur numérique à chacun des échantillons ainsi obtenus. Le théorème de Shannon dit que si on veut être sûr de ne perdre aucune informatique sur le signal, il faut que la fréquence d’échantillonnage soit au moins le double de la fréquence maximale contenue dans le signal. Ainsi, si un signal 10 Hz contient des harmoniques jusqu’au rang 20 (la fréquence maximale est alors de 20 x 10 = 200 Hz), il doit être échantillonné à une fréquence qui est au moins le double de 200 Hz, soit 400 Hz minimum.