Système de mesure d'épaisseur

Rédigé par  mardi, 11 avril 2017 11:01

Avec le thicknessControl UTS 8X02.K, Micro-Epsilon a introduit pour la première fois un système de mesure d'épaisseur sous la forme de cadre en C, sur la base de capteurs confocaux. Les applications visées sont les matériaux de bandes transparents et semi-transparents dans l'industrie du plastique.

# Réglage du temps d'exposition permettant la mesure fiable sur les surfaces aux aspects changeants

# Mesure des objets composés de plusieurs couches transparentes via des capteurs confocaux avec option multi-peak

# Mesures sans contact, ni rétroaction via le principe de mesure confocal à codage chromatique

# Calibrage du système et ajustage avec un outil optoélectronique réalisés avant livraison

# Cible de calibrage intégrée pour un ajustement ultérieur

# Progiciel pour l'analyse, l'affichage et l'archivage des données de production surveillées

# Différents modes de mesure : mesure d'épaisseur à voie fixe dans des positions quelconques, mesure du profil d'épaisseur ou plusieurs tendances longitudinales

Micro-Epsilon France

www.micro-epsilon.fr

Dernière modification le mardi, 11 avril 2017 11:01
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Ce sigle a deux sens :
- Particle Size Disribution, distribution des particules par taille. On rencontre ce terme en granulométrie.
- Position Sensitive Detector, détecteur sensible à la position. Il s’agit de capteurs se présentant sous la forme d’une puce que l’on trouve notamment intégrée dans les cellules de mesure de triangulation laser