Faro améliore sa solution « scan-to-CAD »

Rédigé par  mardi, 13 février 2018 10:01

La nouvelle génération est par exemple jusqu´à 25 % plus précise que la précédente.

L’américain Faro Technologies, fabricant spécialisé dans les technologies de mesure 3D et d’imagerie, vient d’introduire sur le marché la version 2.0 de Design ScanArm, sa solution « scan-to-CAD » clé en main pour la conception et l´ingénierie des produits.

Cette nouvelle solution se distingue par sa précision, sa résolution et une ergonomie hors pair (grâce notamment à une réduction de 25 % du poids d´origine), ce qui permet d’allier flexibilité, fiabilité, performances et très bon rapport qualité/prix.

Le Design ScanArm 2.0 est en effet disponible en trois portées différentes (2,5, 3,5 et 4 m), avec une justesse système respective de 0,075, 0,11 et 0,13 mm, soit jusqu´à 25 % plus précis que la génération précédente. L’ajout d’une tête scanner FaroBlu Laser Line Probe HD, équipée de la technologie laser bleu et capable de numériser jusqu’à 600 000 points/s, améliore la productivité.

Les sondes pouvant être connectées et déconnectées rapidement sans outil, les opérateurs peuvent ainsi passer rapidement du mode « contact » (système de palpeur cinématique) au mode « sans contact ». Il est par ailleurs possible d’ajouter deux batteries échangeables à chaud, en option, pour un fonctionnement continu sans avoir recours à une alimentation externe.

Dernière modification le mardi, 13 février 2018 16:12
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Boundary Scan
La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).