Services de CND : Element accroît sa présence aux États-Unis

Rédigé par  lundi, 20 août 2018 12:10
Charles Noall, président et CEO d’Element. Charles Noall, président et CEO d’Element.

Le groupe britannique a acquis Orbit Industries, dont les différents sites se trouvent en Ohio, en Pennsylvanie et à New York.

Un mois après avoir finalisé l’acquisition de l’allemand vohtec Qualitätssicherung, laboratoires situés dans le sud de l’Allemagne, le britannique Element Materials Technology, prestataire de services de test de qualification, d’inspection et de certification, a racheté début août l’américain Orbit Industries, pour un montant non précisé. Il renforce ainsi sa position sur le marché des contrôles non destructifs (CND) pour l’industrie aérospatiale.

En plus de son siège social situé près de Cleveland (Ohio), Orbit, qui a été créé en 1965 par James Clemons et un groupe d’experts des CND, opère également dans quatre autres sites d’inspection en Ohio, en Pennsylvanie et à New York. Avec plus de 30 accréditations principales, le laboratoire accrédité par Nadcap et ISO 17025 est spécialisé dans le traitement des matières premières, des produits semi-finis et finis, notamment les composants de trains d’atterrissage, les profils aérodynamiques et les roues en aluminium.

« Ces dernières années, nous avons beaucoup investi dans l'expansion de notre plate-forme d'essais non destructifs afin de répondre à la forte croissance de la production de moteurs et de structures dans l'industrie aérospatiale. L’ajout d’Orbit nous permet de renforcer nos capacités et de réaliser des économies pour nos clients », explique Charles Noall (voir photographie), président et CEO d’Element.

Dernière modification le vendredi, 24 août 2018 14:43
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La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).