Flir Systems enregistre des ventes 2016 en croissance

Rédigé par  lundi, 06 mars 2017 14:12

Toutes les divisions de l’américain sont à la hausse, excepté celle concernant les instruments.

Dans la continuité du 4e trimestre 2016 (+8 % comparé au 4e trimestre 2015), l’américain Flir Systems, leader mondial dans le domaine des caméras thermiques pour la maintenance, les bâtiments, la R&D, la sécurité et la surveillance, etc., a enregistré, pour son exercice fiscal 2016, un chiffre d’affaires en progression de 7 % par rapport à l’année précédente, à 1,6622 milliard de dollars, et des bénéfices nets d’un montant de 166,626 millions de dollars (au lieu de 241,686 %M$ en 2015).

En termes de ventes, toutes les divisions sont à la hausse (+5,6 % pour la Surveillance, +5,9 % pour la Sécurité, +30,5 % pour l’OEM et Marchés émergeants, +4,4 % pour la Maritime et +7,7 % pour la Détection), seul le secteur Instruments étant en léger recul en 2016 (-3,3 %, à 336,141 M$).

« Nous sommes satisfaits des progrès réalisés dans notre cœur de métier et de l'ajout de nouveaux secteurs d'activités grâce à quatre acquisitions. Bien que nous soyons déçus des résultats du dernier trimestre du point de vue des marges, nous sommes confiants dans notre capacité à stimuler la croissance, via le lancement de plusieurs nouvelles plates-formes produits, et à améliorer les marges en 2017 », explique Andy Teich, président et CEO de Flir Systems.

Dernière modification le jeudi, 09 mars 2017 16:17
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.