La 1ère édition de Mesures Solutions Expo se tiendra à Lyon

Rédigé par  mardi, 02 mai 2017 10:45
La 1ère édition de Mesures Solutions Expo se tiendra à Lyon Cédric Lardière

Le salon organisé par le Réseau Mesure et dédié à la mesure se déroulera les 31 mai et 1er juin, à Lyon.

Fort de l’expérience acquise avec un salon organisé en 2016 à Toulouse (Haute-Garonne) en parallèle de la 3e édition des Journées nationales de la mesure (J’M) du Collège français de métrologie (CFM), le Réseau Mesure, une association loi 1901 à but non lucratif regroupant des entreprises spécialisées dans l'instrumentation et la mesure, va organiser la 1ère édition de Mesures Solutions Expo les 31 mai et 1er juin, à l’Espace Tête d’or, à Lyon (Rhône).

L’événement s’articulera autour d’une exposition forte de près de 80 sociétés et de deux cycles de conférences. Pour l’un des cycles, à savoir huit conférences sur les deux jours, les thèmes seront proposés par le CFM : « Environnements contrôlés, comment les surveiller ? » par le Cetiat, « Optimisation des périodicités d’étalonnage » par BEA Métrologie, etc. L’autre cycle, constitué de 16 conférences, abordera des sujets aussi variés que la mesure connectée, la mesure de température infrarouge, les drones, les solutions robotisées de mesure 3D…

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.