Hausse de la fréquentation pour Forum Labo Paris 2017

Rédigé par  mercredi, 03 mai 2017 10:30
Hausse de la fréquentation pour Forum Labo Paris 2017 Cédric Lardière

8 600 visiteurs, un nombre en hausse de 5 % comparé à l’édition précédente, et 322 exposants obnt participé à la 13e édition du salon du laboratoire.

La 13e édition de la manifestation Forum Labo Paris, l’événement incontournable de tous les professionnels de laboratoires publics et privés, qui s’est déroulée du 28 au 30 mars 2017, à Paris Expo – Porte de Versailles, et organisée par le Comité interprofessionnel des fournisseurs du laboratoire (CIFL) et GL events Exhbition, a enregistré la venue de 8 600 visiteurs, en progression de 5 % comparé à l’édition précédente, et 322 exposants.

« Nos exposants se sont investis pleinement dans la réussite de leur salon. Ainsi nous retiendrons de cette 13e édition parisienne l'affluence et la qualité des contacts, la richesse de l'offre en produits et en services, l'attractivité du programme de conférences et de formations, couplées à l'efficacité des Lab'Meetings (684 rendez-vous d'affaires, soit une hausse de +23 % par rapport à 2015) et à l'effervescence générée par les Trophées de l'innovation », confie Christophe Blaisse, président du CIFL et de Forum Labo Paris.

Entre les formations qualifiantes, les conférences, les interventions d'associations et de sociétés savantes (CFM, SBCN, Pharma Logistics Club, Club CCM, AFSSI, SFTA), les communications sous forme de posters, les tables rondes et les ateliers, le programme scientifique et technique de la manifestation a réuni 1 560 participants.

Rendez-vous est d’ores et déjà pris les 28 et 29 mars 2018, à la Cité international des Congrès de Lyon (Rhône), pour la 2e édition de Forum Labo Lyon.

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.