Bruker et Dectris améliorent la diffraction de rayons X

Rédigé par  jeudi, 07 septembre 2017 14:33

Le partenariat de deux sociétés se traduit par l’intégration directe de la dernière génération de son détecteur HPC de Dectris dans les systèmes de diffraction de rayons X de Bruker.

A l’occasion du 24e congrès et assemblée générale de l’International Union of Crystallography (IUCr), qui se déroule du 21 au 24 août à Hyderabab (Inde), l’américain Bruker, fabricant d’instruments scientifiques et de solutions pour les analyses appliquées et industrielles, et le suisse Dectris, spécialisé dans les détecteurs à rayons X à comptage d’électrons hybrides (HPC), viennent de dévoiler l’Eiger2 R 500K, la toute dernière génération de détecteur HPC à pixels développé par Dectris.

« Cette nouvelle génération regroupe un ensemble d’améliorations et de nouvelles fonctionnalités, telles qu’un débit de trames élevé permettant la collecte de données 2D en mode de balayage continu, le comptage de photons uniques sans distorsion spatiale, les vitesses de comptage et la dynamique les plus élevées, la commutation possible entre les modes 0D, 1D et 2D », affirment les sociétés.

Le partenariat entre Bruker et Dectris se traduit par l’intégration directe du détecteur 2D Eiger2 R 500K dans les systèmes D8 Advance et D8 Discover du premier, ce qui assure des performances améliorées pour nombre d’applications de diffraction de rayons X (poudres, micro-diffraction, analyse de haute texture ou de stress résiduel, etc.).

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