Raphaël Longère est nommé chez Testo France

Rédigé par  vendredi, 23 mars 2018 11:40

Il est devenu responsable Grands comptes Agroalimentaire et Logistique, au sein de la nouvelle division dédiée à la vente de solutions.

Dans le cadre de la création de sa nouvelle division dédiée à la vente de solutions, la filiale française de l’allemand Testo, fabricant d'appareils de mesure portables et à poste fixe pour les applications de chauffage, ventilation, climatisation (CVC), l'agroalimentaire, le froid, etc., vient de nommer Raphaël Longère au poste de responsable Grands comptes Agroalimentaire et Logistique.

Après une formation à l’École de commerce ISEG de Lyon (Rhône), il a toujours travaillé dans les secteurs de l’agroalimentaire et de la logistique. Il a débuté sa carrière comme conseiller technico-opérationnel chez Martin-Brower, un prestataire logistique de McDonald’s. Il a ensuite occupé, pendant 13 ans, le poste de responsable Grands comptes chez Ecolab, spécialisé dans les technologies et les services de l’eau et de l’hygiène, avant de rejoindre Testo.

Au sein de l’allemand, Raphaël Longère aura notamment pour mission de faire connaître et prescrire la nouvelle solution numérique testo Saveris Retail Chain auprès des responsables logistique des grands groupes de transport et de distribution agroalimentaire.

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La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).