Microscope à balayage électronique

Rédigé par  vendredi, 06 novembre 2020 11:39

Le JSM-IT700HR introduit par JEOL est un MEB conçu pour une acquisition plus rapide des données à partir d’images de meilleure qualité – nouvelle fonction intégrée dans l’interface graphique pour afficher la profondeur caractéristique de génération de rayons X – et une confirmation plus facile des informations de composition.

# Canon à électrons à émission à effet de champ (FEG) Schottky intégré à l’objectif

# Résolution d’analyse : 3 nm (sonde de courant 15 kV 3 nA)

# Tension d’accélération : 0,5 à 30 kV

# Courant de sonde : quelques pA à 300 nA, 15 fois plus élevé qu’auparavant

# Grossissement : x5 à x600 000 (photo), x14 à x1 679 449 (affichage)

# Taille maximale de l’échantillon (Ø x H) : 200 x 75 mm

# Deux supports optionnels (200 x 80 mm et 32 x 90 mm)

# 2 configurations : JSM-IT700HR/LV pour observer des images sous vide et JSM-IT700HR/LA avec système EDS intégré supplémentaire

JEOL France

http://jeol.fr

Dernière modification le vendredi, 06 novembre 2020 11:39
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