Philippe Cassette, lauréat du Prix LNE de la recherche 2016

Rédigé par  lundi, 12 décembre 2016 16:27
Thomas Grenon, directeur général du Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE), remettant le Prix LNE de la recherche 2016 à Philippe Cassette (à gauche). Thomas Grenon, directeur général du Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE), remettant le Prix LNE de la recherche 2016 à Philippe Cassette (à gauche). Cédric Lardière

Philippe Cassette, docteur en physicochimie, a été récompensé pour ses recherches en métrologie des rayonnements ionisants.

Pour la 8e édition, Thomas Grenon, directeur général du Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE), a remis jeudi 8 décembre le Prix LNE de la recherche 2016 à Philippe Cassette (voir ci-dessus à droite), en présence de représentants de la direction du LNE, du Laboratoire national Henri Becquerel (LNE-LNHB), de collègues, etc. Rappelons que « le Prix LNE de la recherche distingue des chercheurs contribuant à la réussite et à la réputation scientifique du Réseau Métrologie française que le LNE pilote et de sa propre activité de recherche ».

Docteur en physico-chimie, Philippe Cassette a d’abord été responsable du laboratoire d’étude des transferts de contamination dans les installations nucléaires, à l’Institut de protection et de sûreté nucléaire (IPSN, future entité de l’IRSN), avant de rejoindre le Laboratoire national Henri Becquerel (LNE-LNHB) en 1991. Il a dans un premier temps la responsabilité des mesures primaires d’activité par les méthodes utilisant la scintillation liquide.

Philippe Cassette a ensuite la responsabilité d’autres techniques de mesure du laboratoire, telles que les mesures primaires et secondaires de gaz radioactifs, de radon et de thoron, les mesures de débit d’émission de sources de neutrons. Les avancées significatives qu’il a apportées dans le développement des instrumentations et des méthodes de mesure associées ont contribué aux bons résultats du LNE-LNHB dans les comparaisons internationales de mesures d’activité et dans le rayonnement scientifique du laboratoire au niveau international. Philippe Cassette a d’ailleurs été nommé par le CEA en tant qu’expert senior en 2004, puis expert international cinq ans plus tard.

Dernière modification le lundi, 10 juillet 2017 12:20
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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.