Sopemea se renforce au Royaume-Uni

Rédigé par  jeudi, 21 septembre 2017 09:24
Sopemea se renforce au Royaume-Uni Product Assessment And Reliability Centre

Pour sa première implantation hors France, la filiale d’Apave a racheté le laboratoire Product Assessment And Reliability Centre (Parc).

Sopemea, filiale du groupe Apave regroupant des laboratoires spécialisés dans les essais en environnement (essais mécaniques, vibratoires, climatiques, électriques, hydrauliques) et dans l’ingénierie d'essais et le conseil en qualification, vient de racheter le laboratoire britannique Product Assessment And Reliability Centre (Parc), pour un montant non précisé. Il s’agit de la première implantation au-delà des frontières pour le français.

Situé dans le Devon (Sud-Ouest de l’Angleterre), le laboratoire dirigé par Richard Tabor et employant 17 personnes propose depuis une vingtaine d’années un large éventail d’essais mécaniques (vibratoires et chocs), climatiques (brouillard salin, étanchéité et altitude) et HALT (Highly Accelerated Life Testing). Parc est équipé de 6 shakers et de 24 chambres climatiques, et il détient l’accréditation UKAS 2379.

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In situ

Le test in-situ d’une carte électronique consiste à tester individuellement les composants qu’elle comporte ainsi que la qualité des connexions. L’accès électrique aux différents points de la carte s’effectue à l’aide d’une planche à clous. Le test in-situ permet de mettre immédiatement en évidence un composant défaillant. Lors du test, seul le composant ou la zone sous test est mise sous tension.
Sur les cartes les plus denses, l’accès aux points de la carte est de plus en plus difficile. Ceci a conduit les fabricants de testeurs de cartes à développer des techniques de contrôle optique (AOI) ou à rayons X. Mais, bien évidemment, on se limite ici à des contrôles d’aspects (de qualité des soudures, de marquage des composants, etc.) et on n’atteint pas la qualité d’un test électrique.
Le test in-situ est en général complété par un test fonctionnel, qui permet de s’assurer du bon fonctionnement de la carte. Dans certaines productions bien rodées, on se contente d'un test fonctionnel rapide, de type "go-no go", et on pratique éventuellement un test in-situ sur les cartes qui n'ont pas passé le test go-no go, afin de localiser le défaut et réparer la carte.