Le CFM lance le groupe de travail « Creative Metrology »

Rédigé par  jeudi, 22 février 2018 11:35

Il aura pour objectif d'établir les bases d'une nouvelle métrologie capable de répondre aux défis des projets liés à l'usine du futur.

A l’occasion de son Assemblée générale, qui s’est tenu le 15 février dernier dans les locaux parisiens du Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE), le Collège français de métrologie (CFM) a annoncé la création d’un groupe de travail sur la métrologie du futur.

Baptisé « Creative Metrology » et composé d’experts représentant les principaux domaines de la mesure, du numérique, de l’industrie et des laboratoires, ce groupe de travail aura pour objectif d'établir les bases d'une nouvelle métrologie capable de répondre aux défis des projets liés à l'usine du futur.

Le sujet, à la fois vaste et transversal, s’adresse à l'ensemble des secteurs d'activités industriels. Il englobe de nombreuses thématiques de pointe, telles que les capteurs intelligents, le big data, l'intelligence artificielle, la traçabilité et la sécurité des informations, les évolutions normatives, etc., et tout cela dans le contexte d’une usine connectée.

Pour Cosimi Corleto, président du CFM et CEO de Stil, « la première étape sera donc d’essayer de tracer un état des lieux de la métrologie dans le cadre de l’usine du futur, pour après poser un diagnostic et aller vers des solutions innovantes. Je suis convaincu que l’on dispose des compétences, de l’expertise en France. »

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La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).