Le LNE inaugure l’Institut LNE-Nanotech

Rédigé par  jeudi, 01 mars 2018 11:14
Le LNE inaugure l’Institut LNE-Nanotech Cédric Lardière

Il s’agit d’un nouvel institut dédié à la métrologie pour les nanotechnologies, dont l’objectif est notamment d’accélérer le développement pour la compétitivité de l’industrie.

C’est notamment en présence de Delphine Gény-Stephann (voir photographie ; à gauche), secrétaire d’État auprès du ministre de l’Économie et des Finances, que le Laboratoire national de métrologie et d'essais (LNE) vient d’inaugurer, le mardi 27 février dernier, sur son site de Trappes (Yvelines), LNE-Nanotech, un nouvel institut dédié à la métrologie pour les nanotechnologies.

« Le LNE est devenu en dix ans le laboratoire de référence aux niveaux national et européen pour la caractérisation des nanomatériaux. La création de l’Institut LNE-Nanotech doit permettre d’accélérer notre développement dans ce domaine fondamental pour la compétitivité de notre industrie et la sécurité de nos concitoyens », explique Thomas Grenon (voir photographie ; au centre), directeur général du LNE.

Cet institut vise à mieux coordonner les efforts de R&D du LNE, à mieux les valoriser, à renforcer les échanges entre acteurs publics et acteurs privés, entre recherche et industrie. Il faut faire émerger en France une véritable filière des nanomatériaux, sur un marché en plein développement.

Pour cela, le LNE peut s’appuyer sur les plates-formes Carmen (Caractérisation métrologique des nanomatériaux) et Mona dédiée aux aérosols. Ces équipements et l’expertise des équipes assurent la collaboration avec des organismes de recherche tels que le CNRS, et des industriels, pour relever les défis métrologiques et industriels.

Pour le transfert vers l’industrie, le LNE développe une nanoToolBox, qui regroupe l’ensemble des outils et des méthodes pour caractériser des nanoparticules. « Je voudrais mentionner le partenariat de recherche avec la start-up Pollen Metrology, spécialisée dans l’édition d’une nouvelle génération de logiciels d’analyse de données de métrologie adaptés à la maîtrise des nanomatériaux et destinés aux entreprises », ajoute Thomas Grenon.

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Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).