Le Cofip lance trois guides de métrologie légale

Rédigé par  jeudi, 29 mars 2018 07:34

Il s’agit du guide existant dédié aux IPFNA, qui a été mis à jour, ainsi que des nouveaux guides pour les IPFA et les préemballés.

A l’occasion de la 22e édition du Carrefour des fournisseurs de l'industrie agroalimentaire (CFIA), qui s’est déroulé du 13 au 15 mars dernier à Rennes (Ille-et-Vilaine), le Comité français des industriels du pesage (Cofip) a présenté la nouvelle collection de ses guides dédiés à la métrologie légale.

On retrouve ainsi celui dédié aux Instruments de pesage à fonctionnement non automatique (IPFNA), qui a été mis à jour pour notamment prendre en compte les changements réglementaires. Deux autres guides sont désormais disponibles, l’un concernant les Instruments de pesage à fonctionnement automatique (IPFA) et l’autre dédié au préemballage (à poids variable et à poids fixe).

Avec ces guides, les détenteurs d’IPFNA et IPFA disposeront des informations clés sur les principaux usages par métiers, le cycle de vie de l'instrument, les obligations du détenteur et du prestataire, l'intervention du technicien, les marques réglementaires, etc. Du côté des préemballeurs, le nouveau guide aborde la maîtrise du processus, le contrôle statistique, le type de contrôle fait, la manière de tracer les résultats, les actions à mener en cas de lot non-conforme.

Dernière modification le jeudi, 29 mars 2018 07:34
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La technique “boundary scan” (balayage de la périphérie) est pratique pour accéder individuellement aux circuits intégrés numériques présents sur une carte électronique. Les différentes broches des composants et les différents composants sont raccordés sur un bus spécialisé (Boundary Scan) accessible depuis le connecteur de la carte. Cette technique permet de réaliser de la programmation in-situ de composants (mémoires et micro-contrôleurs) et de tester ces composants. Le gros intérêt du Boundary Scan est d’éviter de recourir au traditionnel lit à clous, encombrant, peu flexible (il faut en développer un pour chaque type de carte à tester) et coûteux. Revers de la médaille, cette technique impose d’utiliser des versions Boundary Scan des composants classiques, qui nécessitent plus de surface sur le silicium et sont donc plus onéreuses.
Le terme Boundary Scan est également connu sous le nom de JTAG et il fait l'objet d'une norme (IEEE 1149.1).