L'utilisation d'un analyseur logique pour tester un composant FPGA présent sur une carte électronique nécessite un long travail de configuration. Agilent Technologies propose pour sa sonde dynamique B4655A (pour les analyseurs logiques 1680 et 1690) un outil qui se charge de cette tâche fastidieuse.
· Co-développement par Xilink, spécifiquement pour les FPGA de ce fabricant
· La préparation du test prend quelques secondes, contre plusieurs heures auparavant (selon Xilink)
Accueil » Instrumentation » Mesure électronique / électrique » Sonde pour une mise en œuvre rapide d'un test de FPGA
Dans la même rubrique
Le 02/05/2024 à 9:02 par Fanny del Fabbro
Keysight, Synopsys et Ansys accélèrent la reconception de circuits RF du fondeur TSMC
Les partenaires proposent un flux de migration des designs de puces RF de la technologie N16 vers la nouvelle N6RF+.…
Le 30/04/2024 à 11:14 par Sophie Eremian
Keysight Technologies réagit à la Cour des comptes européenne sur la fin des ventes de véhicules thermiques
Le Président de Keysight Technologies en France, Thierry Locquette livre son regard. (suite…)
Le 26/04/2024 à 18:35 par Sophie Eremian
Fluke lance son nouvel analyseur photovoltaïque
Le Fluke Solmetric PVA-1500HE2 permet de réaliser des tests jusqu’à 1 500 V et de mesurer les chaînes haute efficacité pouvant…
Le 25/04/2024 à 12:18 par Fanny del Fabbro
Socomec lance des capteurs et des transformateurs de courant personnalisables
La gamme ACCUline répond à la demande accrue en solutions spécifiquement adaptées aux besoins des clients. (suite…)