Pour l'analyse élémentaire sur site des métaux et alliages, WAS présente le Test-Master Pro, un spectromètre d'émission optique capable d'identifier et d'analyser les métaux et alliages sur le terrain.
· Temps d'analyse moyen 3 à 5 secondes
· Fonctionne en mode Arc et en mode Etincelle
· Système de mesure : intègre 14 détecteurs optiques CCD sur une plage de 185 à 420 nm
· Applications : professionnels des métaux (aciéristes, fondeurs, recycleurs…), industries de transformation comme l'automobile et l'aéronautique, pour les applications de contrôle qualité, recyclage, tri et négoce…
· Analyse des éléments suivants dans les bases Fer : C, Si, Mn, Cr, Mo, Ni, Al, Co, Cu, Nb, Ti, V, W et Zr
· Forme ergonomique de la sonde de type pistolet. Elle est reliée au spectromètre par un cordon d'une longueur de 5 m
· Mesure d'échantillons incurvés ou cylindriques comme les tubes et les câbles, sans nécessiter d'adaptateurs spéciaux.
· Caisson hermétique scellé et étanche aux poussières
· Dimensions : 910 x 510 x 640 mm
· Poids : 70 kg
Dans la même rubrique
Lecture offerte
Le
30/01/2026
à
8:28
par
Sophie Eremian
Caméra thermique et manomètre
Testo présente ses dernières innovations, pensées pour les professionnels du génie climatique, dont la mini caméra thermique connectée testo 860i…
Lecture offerte
Le
09/01/2026
à
8:35
par
Camille Paschal
Intelligence spatiale : Aqara présente ses innovations
Aqara, spécialiste de l’IoT, a dévoilé ses innovations en matière de technologies pour espaces intelligents à l’occasion du CES 2026…
Lecture offerte
Le
06/01/2026
à
11:23
par
Sophie Eremian
Éric Georgin, nouveau directeur des études et de la formation du Cetiat
Éric Georgin est nommé directeur des études et de la formation du Cetiat – Centre Technique des Industries Aérauliques et…
Lecture offerte
Le
10/12/2025
à
10:49
par
Camille Paschal
Nikon annonce des améliorations aux systèmes de rayons X et de tomographie numérique
Nikon corporation (Nikon) a annoncé un ensemble complet d'améliorations pour sa série de systèmes de rayons X et de tomographie…