Le système de tomographie numérique MCT 225, que lance Nikon Metrology, offre une précision de (9+L/50) µm (suivant la norme VDI/VDE 2630).
# Source de rayons X à 225 kV
# Détecteur de haute résolution (4 mégapixels)
# Température dans l’enceinte de mesure : 20 +/- 1 °C
# Grossissement : jusqu’à 150x
# Dimensions maximales des pièces contrôlées : 250 mm de diamètre et 450 mm de hauteur
# Poids des pièces : jusqu’à 5 kg
# Poids de l’instrument : 4000 kg
Accueil » Vision industrielle » Système de tomographie X
Dans la même rubrique
Le 02/05/2024 à 9:00 par Fanny del Fabbro
Le marché des machines d’inspection s’attend à 4,7 % de croissance d’ici 2027
Selon Markets and Markets, les sytèmes automatisés et combinant les technologies devraient croître le plus rapidement. (suite…)
Le 22/04/2024 à 17:38 par Charlotte Huguerre
AnotherBrain présente sa nouvelle solution de contrôle qualité intelligente Blue Phosphor
La solution a été mise au point à partir d’intelligences artificielles développées depuis 7 ans pour répondre, entre autres, aux…
Le 04/04/2024 à 14:36 par Sophie Eremian
Détecteurs à infrarouge
Phlux Technology a lancé sa famille de détecteurs infrarouge Aura, qui étend la plage de fonctionnement des LiDARs, télémètres ou…
Le 04/04/2024 à 9:18 par Sophie Eremian
Nouveau directeur général chez Instrument Systèmes
Depuis le 2 avril 2024, le Dr Yuta Yamanoi occupe le poste de directeur général du fabricant Instrument Systems à…